LSIC老化机台测试系统
方案概述
LSIC老化机台测试系统是用于测试半导体芯片老化性能的设备。半导体芯片在长时间运行后，可能会出现老化现象，比如电容降低、漏电流增加等，这些现象会影响芯片的性能和可靠性。因此，LSIC老化机台测试系统被用来模拟芯片长时间运行的环境，以便测试芯片在长时间使用后的性能及可靠性。
该系统通常包含加热、降温、恒温等多种测试条件，并配有专业的测量仪器，可以对芯片的电学性能、热学性能、机械性能等进行测试。此外，该测试系统还可以记录芯片的使用时间、电压、温度等参数，以帮助工程师分析芯片的工作情况和预测芯片的使用寿命。
技术参数
| LSIC2000/7000系列 | LSIC8000系列主要技术参数 |
| 1.提供32个老化插槽，可独立老化16种不同器件 | 1.提供16个老化插槽，可独立老化16种不同器件 |
| 2.每个老化插槽提供184路可独立编程的数字信号，其中有32路为双向I/0 | 2.每个老化插槽提供128路可独立编程的数字信号，128路全为双向I/0 |
| 3.每个老化插槽提供8个DPS二级电源，二级电源可提供0.5~6V的电压:0~25A的电流:级电源的电压精度为士5%+30mV; 电流精度为-1%+50mA | 3.每个老化插槽提供8个DPS二级电源，二级电源可提供0.5~6V的电压:0~25A的电流:级电源的电压精度为士5%o+30mV; 电流精度为+1%+50mA |
| 4.上升/下降时间参10nS | 4.上升/下降时间至10nS |
| 5.数字信号Pin最大驱动电流: 50mA | 5.数字信号Pin最大驱动电流: 50mA |
| 6.数字信号最大频率可达12.5Mhz | 6.数字信号最大频率可达12.5Mhz |
| 7.向量最大深度可达16M行 | 7.向量最大深度可达16M行 |
| 8.文件格式为VEC格式，支持sti1格式文件直接转换为VEC格式文件 | 8.文件格式为VEC格式，支持sti1格式文件直接转换为VEC格式文件 |
| 支持向量指令ADV,HALT,SFX,CRFX,LIX,MSSA跳转指令: JUMP,RPT,JIX,JNIX,JFX,JNME调用指令:CALL,RET | 9.支持向量指令ADV,HALT,SFX,CRFX,LIX,MSSA跳转指令: JUMP,RPT,JIX,JNIX,JFX,JNME调用指今: CALL,RET |
| 10.支持8路独立温控:温控精度至3”C |