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高温栅偏老化测试系统(HTGB2000)

该系统可进行室温+ 10°C-200C的高温栅偏老化测试,老化过程中实时监测被测器件的漏电流状态、被测器件的电压状态,并根据需要,记录老化试验数据,导出试验报表。

功能


  • nA级别的漏电流检测精度
  • 整机30s的全工位数据刷新
  • 可定制工位老化电压独立控制功能,实现单工位老化超限剔除
  • 充分的实验员人体安全考电设定


产品特性

试验温区

1个

试验温度

室温+10~200℃

老化试验区

16区(16/32/40/48区 可选)

单区工位数

80(典型)

老化电压范围

0~±100V

电压检测精度

±(1%+2LSB)

电流检测范围

1nA~1mA

电流检测精度

±(1%+10nA)

整机供电

三相AC380V±38V

最大功率

8KW(典型)

整机重量

680KG(典型)

整机尺寸

1450mm(W) x1450mm (D) x2000mm (H)

适用标准

JESD22-A101 AQG324 GJB128MIL-STD-750D

适用器件

适用于MOS、二极管、三极管、IGBT模块、PIM模块、可控硅等

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