点击咨询产品水冷间歇寿命老化测试系统(IOL3000)
该系统适用于各种封装(包括F型、TO-220、TO-247、TO-254、TO-257、TO-258、TO-3P、SMD-0.5、SMD-1SMD-2等)的大功率二极管、MOS管等功率器件进行秒级功率循环试验和恒流功率试验。系统提供12块水冷板，充分避免不同区位试验进程不同对试验结果造成影响;在实验过程中，监测器件的电压、结温特性，并且提供结温特性曲线以备后期数据分析。
功能
- 支持分钟级/秒级功率循环测试
- 实时监测输出功率、栅压、漏压以及电流监测
- 夹具支持可调力度及深度，可对不同封装的模块进行有效的夹固
- 具备12块独立水冷版，每块均配备电动水阀，可根据实际情况自动调整冷却水流
产品特性
试验温区 | 12区 |
试验控制范围 | 5~30℃(水冷板) |
老化试验区 | 12区 |
恒温系统控制精度 | 水冷系统：±2℃ |
结温测试精度 | ±2℃ |
冷板及壳温测试精度 | ±2℃ |
加热电流 | 100A(每区) |
测试电流 | 10~100mA |
测试电流精度及分辨率 | ±(0.1%+2mA) |
分辨率 | 0.5mA |
整机供电 | 三相AC380V±38V |
最大功率 | 30KW(典型) |
整机重量 | ≤1200KG(典型) |
整机尺寸(不含水冷机) | 1850mm(W)×1650mm(D)×1200mm(H) |
适用标准
GJB128 AQG324 JESD51
适用器件
适用于各种封装的大功率二极管、MOS管等功率器件