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间歇寿命试验
IOL2000
间歇寿命老化测试系统
该系统适用于各种封装(包括F型、TO-220、TO-247、TO-254、TO-257、TO-258、TO-3P、SMD-0.5、SMD-1、SMD-2等) 的大功率二极管、MOS管等功率器件进行功率循环试验和恒流功率试验。系统每个区位风道独立,充分避免不同区位试验进程不同对试验结果造成影响;在实验过程中,监测器件的电压、结温特性,并且提供结温特性曲线以备后期数据分析。
IOL3000
水冷间歇寿命老化测试系统
该系统适用于各种封装(包括F型、TO-220、TO-247、TO-254、TO-257、TO-258、TO-3P、SMD-0.5、SMD-1SMD-2等)的大功率二极管、MOS管等功率器件进行秒级功率循环试验和恒流功率试验。系统提供12块水冷板,充分避免不同区位试验进程不同对试验结果造成影响;在实验过程中,监测器件的电压、结温特性,并且提供结温特性曲线以备后期数据分析。
IOL6000
间歇寿命老化测试系统
该系统可针对各种功率器件进行功率循环老化试验,模拟器件在不同功率工况下的退化情况,通过加热与冷却过程的控制,对封装、沟道或者内部键合丝进行热疲劳试验。
IOL2100
间歇寿命老化测试系统