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电容器高温高湿老化测试系统(H3MKP2000)

该系统可对电容器进行高温高湿(双85)老化,老化过程中实时监测被测器件的漏电流、电压,并且根据需要记录、导出老化数据。

功能
  • nA级别的漏电流检测精度
  • 整机30s的全工位数据刷新
  • 独特高压抑制电路,器件瞬间击穿不影响其他工位老化进程
  • 独特的自动充放电回路设计
  • 充分的实验员人体安全考虑设定
产品特性

试验温区

1个

试验温度

室温-20~180℃

试验湿度

25%rh~98%rh

老化试验区

16区(8/16区可选)

单区工位数

40(典型)

老化电压范围

0~1200V

电压检测精度

±(1%+2LSB)

电流检测范围

10nA~30mA

电流检测精度

±(1%+10nA)

整机供电

三相AC380V±38V

最大功率

12KW(典型)

整机重量

1050KG(典型)

整机尺寸

1650mm(W)×1750mm(D)×1950mm(H)

适用标准

GJB360 MIL-STD-202E

适用器件

适用于片式陶瓷电容器(MLCC)、云母、薄膜、纸介、陶瓷和金属化纸介电容器等

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