点击咨询产品大功率晶体管老化测试系统(MFS2002)
该系统适用各种NPN、PNP晶体管（包括三极管、达林顿管）、MOSFET管进行大功率老化筛选试验；适应F-1、F-2(粗细脚兼容)、TO-3P、TO-220封装。
功能
- 本系统提供4个测试区，每个区提供16个老化工位，共64工位
- 每个区提供一套水冷平台
- 设备采用触摸屏控制
产品特性
老化试验区 | 4区 |
试验能力 | 75W以下的试验条件,整机试验能力为64位 |
150W以下的试验条件，整机试验能力为32位 | |
300W以下的试验条件,整机试验能力为16位 | |
冷却系统 | 制冷功率≥4KW,每区流量16-160L/h |
试验参数 | 可测试、控制每个试验器件的试验电流值，范围：0~5A/10A |
可测试、控制每个试验器件的试验电压值，范围：0~60V | |
各分区温度可独立检测，温度检测范围：10~90℃,温度检测精度：±(1%+2LSB) | |
整机供电 | 三相AC380V±38V |
最大功率 | 10KW(典型) |
整机重量 | 800KG(典型) |
整机尺寸 | 1300mm(W)×950mm(D)×2000mm(H) |
适用标准
GJB128 GJB33 MIL-STD-750
适用器件
适用于F0、F1、F2（细）、F2-3(粗）、TO-3P等封装的晶体管、三极管、MOS管